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芯片制冷加熱測(cè)試機(jī)的選購(gòu)方法

 更新時(shí)間:2020-08-24 點(diǎn)擊量:1198

  芯片制冷加熱測(cè)試機(jī)是電子產(chǎn)業(yè)常用的試驗(yàn)箱,對(duì)電子零件業(yè)來說它主要是用熱漲冷縮效應(yīng)來驗(yàn)證零件本身的可靠性、對(duì)組件和機(jī)構(gòu)件來說他主要是對(duì)各部件間因遭遇熱漲冷縮而是否會(huì)導(dǎo)致卡死或龜裂。這么重要的設(shè)備,我們?cè)谶x購(gòu)的時(shí)候要注意哪些關(guān)鍵參數(shù)呢?

 <strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī)清潔保養(yǎng)</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī)清潔保養(yǎng)</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

  1,沖擊溫度。沖擊溫度是指測(cè)試區(qū)實(shí)際能夠跑到的溫度大范圍。注意不是預(yù)熱和預(yù)冷室的限溫度。

  2,試驗(yàn)負(fù)載。這個(gè)參數(shù)直接影響能夠放置多少測(cè)試品。一般說來,這個(gè)重量越大越好。

  3,復(fù)歸時(shí)間。它是指測(cè)試品全部從一個(gè)溫度點(diǎn)切換到另外一個(gè)溫度點(diǎn)所耗費(fèi)的時(shí)間。我們常見的規(guī)范約定小于*min。這個(gè)時(shí)間越小越好。

  4,除霜時(shí)間。除霜間隔時(shí)間越長(zhǎng)越好?,F(xiàn)在有寫廠家能夠做到1000cycles除霜一次,是非常理想的。除霜間隔越短說明該設(shè)備的氣密性越差!

  5,sensor放置位置。規(guī)范要求,sensor須放置在測(cè)試區(qū)內(nèi)部。有些廠家將sensor放置在風(fēng)道內(nèi)部,雖然與測(cè)試區(qū)只有10cm的距離,但是這個(gè)能量差異是相當(dāng)大的。且不能夠真實(shí)反映測(cè)試品表面的溫度變化。

以上幾點(diǎn),是在選擇芯片制冷加熱測(cè)試機(jī)時(shí)特別要注意的問題。對(duì)某些行業(yè)來說,芯片制冷加熱測(cè)試機(jī)還可以用來驗(yàn)證潤(rùn)滑油的效能,近來我還發(fā)現(xiàn)有寫客戶把沖擊箱用來做應(yīng)力篩選等等,總之它的使用非常廣泛。