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晶圓測試溫控系統(tǒng)chiller的日常使用維護(hù)介紹

 更新時(shí)間:2023-06-15 點(diǎn)擊量:837

  在半導(dǎo)體領(lǐng)域中,晶圓測試關(guān)系到芯片的性能,一個(gè)晶圓上常常有幾百個(gè)到幾千個(gè)甚至上萬個(gè)芯片,而這所有芯片可以在測試平臺上一次性測試。晶圓測試溫控系統(tǒng)chiller是應(yīng)用在半導(dǎo)體領(lǐng)域中的,那么,在使用維護(hù)保養(yǎng)上要注意哪些呢?

  晶圓測試是半導(dǎo)體工藝制程中的一個(gè)步驟,而晶圓測試溫控系統(tǒng)chiller則是晶圓測試的關(guān)鍵之一。測試溫控系統(tǒng)的原理、作用和日常維護(hù)標(biāo)準(zhǔn)如下:

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  一、晶圓測試溫控系統(tǒng)chiller原理:

  晶圓測試溫控系統(tǒng)chiller一般由加熱系統(tǒng)、風(fēng)扇散熱系統(tǒng)、溫度控制器、溫度傳感器等組成。通過加熱系統(tǒng)對測試機(jī)的環(huán)境進(jìn)行加溫,使測試機(jī)能夠在恒溫的狀態(tài)下對晶圓進(jìn)行測試。溫度控制器根據(jù)溫度傳感器反饋的實(shí)際溫度值,對加熱系統(tǒng)進(jìn)行控制,達(dá)到恒溫的效果。

  二、晶圓測試溫控系統(tǒng)chiller的作用:

  晶圓測試溫控系統(tǒng)chiller的作用是保持測試機(jī)的溫度穩(wěn)定,保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。在廢品率和可靠性測試等方面,都能夠提高測試的正確率

  三、晶圓測試溫控系統(tǒng)的日常維護(hù)標(biāo)準(zhǔn)如下:

  1、定期檢查溫度傳感器的接觸是否良好,若不良則需要更換。

  2、注意檢查加熱系統(tǒng)和風(fēng)扇是否正常工作,以防止因加熱不足而影響測試效果。

  3、注意定期校驗(yàn)溫度控制器的準(zhǔn)確性,避免誤差過大。

4、注意清潔測試機(jī)的外殼和排氣口,保持空氣流通暢通,避免影響溫度控制的準(zhǔn)確性。